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IGBT內部缺陷檢測之X射線檢測設備

更新更新時間:2023-06-08

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X可以IGBT問題IGBTIGBT可能問題IGBTXIGBT可以IGBT顯示位置大小X可以通過IGBT一個位置進行X通過顯示X操作可以進行可以IGBT,并


X就能非常直觀的檢測IGBT內部的氣泡或者其他缺陷,而且XRAY檢測是一種無損探傷檢測,不會破壞IGBT就能看到其內部的結構是否有缺陷或異物。正業科技從事X研發10多年,目前生產的全自動XRAY檢測設備XG5500可用于半導體芯片、IGBT、SMT等缺陷進行無損檢測,可實現檢實現零漏檢、極低誤檢,檢測效率高,可以助力企業提質增效。


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